《DFT可测试性设计工程实践》
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●课程背景
◇测试是产品从研发走向生产的必经阶段,也是决定产品质量的重要环节,如何将测试工作开展的更全面、更仔细、更专业完善也是众多电子通信企业所追求的目标。
◇建立可测试性设计是开发软硬件系统的关键，尤其是那些对工作可靠性要求高的系统。
◇若没有可测试性设计，在产品正式使用之前就很难发现设计缺陷，而且工作中出现的故障也很难检测和诊断。
◇采用可测试性设计可以增加系统的可测试性，提高产品质量，并减少产品投放市场的时间及测试费用。
●课程收益
学完本课程后，学员可获得：
▲深刻理解可测性设计(DFT)的基本思想和基本原理
▲熟悉可测性设计(DFT)的基本业务流程
▲全面掌握可测性设计(DFT)的设计方法
▲有效构建可测性设计(DFT)的体系平台和货架技术
●课程大纲
1、可测性设计(DFT)概述
◇何谓可靠性？
◇可靠性管理与质量管理
◇产品生命周期V模型
◇电子信息产品测试所面临的问题
◇什么是可测性设计(DFT)
◇思考：如何深刻理解可测性设计(DFT)
◇可测性的物理特征表述
◇可测性设计(DFT)的效益分析
◇可测性设计(DFT)基本要素
◇IPD模式下的DFT体系结构
◇可测性设计(DFT)基本过程
◇可测性设计(DFT)中常用术语及缩略语
2、可测性设计(DFT)需求
◇整机研发测试的可测性(DFT)需求来源
◇整机研发测试的可测性(DFT)需求
◇单板软件研发测试的可测性(DFT)需求来源
◇单板软件研发测试的可测性(DFT)需求
◇单板硬件研发测试的可测性(DFT)需求来源
◇单板硬件研发测试的可测性(DFT)需求
◇单板生产测试的可测性(DFT)需求来源
◇单板生产测试的抽象模型
※思考：单板生产测试的目的是什么？
◇单板生产测试路线
◇单板生产工艺测试基本原理
◇单板生产功能测试基本原理
◇单板生产测试的可测性(DFT)需求
※※讨论：本公司各产品适合的生产测试方案和路线是怎样的？
◇JTAG在生产测试中的应用
◇JTAG在生产测试中的可测性设计(DFT)需求
◇单板维修可测性设计(DFT)需求
※※思考：本公司生产维修有哪些诊断手段？
3、可测性设计(DFT)基本方法
◇输入输出通道设计——测试控制物理通道
◇输入输出通道设计——外部测试命令集
◇输入输出通道设计——测试控制管理
◇输入输出通道设计——测试信息存储与输出
◇输入输出通道设计——外部仪器输入输出接口
◇内置数据源设计——业务数据源自动生成
◇内置数据源设计——差错数据源自动生成
◇内置数据源设计——容限/极限数据源自动生成
◇内置数据源设计——故障数据源自动生成
◇能控性设计——测试数据源的设置与启动
◇能观性设计——系统配置状态监控
◇能观性设计——系统业务状态监控
◇能观性设计——单板运行状态监控
◇能观性设计——系统资源状态监控
◇能观性设计——系统其它状态监控
◇案例解读
4、单板可测性设计(DFT)必须考虑的要素
◇机械结构设计
◇自检和自环设计
◇工装夹具设计
◇测试点设计
◇芯片控制引脚设计
◇边界扫描测试设计
◇EPLD/CPLD/FPGA设计
◇如何设计以减少测试点
5、可测性设计(DFT)工程实施
◇可测性设计(DFT)工程实施步骤
◇可测性设计(DFT)工程实施障碍
※交流与探讨：如何构建可测性设计(DFT)体系和货架技术
